SmartSPM HORIBA

Il Microscopio a Scansione SmartSPM è il primo sistema automatizzato al 100% che offre la sua tecnologia all'avanguardia di misurazioni ultraveloci, metrologiche e ad alta risoluzione per la ricerca di materiali più avanzata su scala nanometrica in tutte le modalità AFM e STM. Con lo SmartSPM l'ingrandimento da una panoramica ampia fino a 100 µm, le scansioni fino alla risoluzione atomica sono diventate realtà. Il suo design è stato appositamente sviluppato per essere perfettamente integrato con le spettroscopie ottiche (SNOM, Raman, Fotoluminescenza e tecniche TERS / SERS).

Automazione del funzionamento / Facilità d'uso
Allineamento laser-fotodiodo completamente automatizzato (non è richiesto alcun clic dell'utente sul posto!).
Lo scambio di sonde non è mai stato così facile prima!
Configurazione completamente automatizzata per le modalità AFM più comuni.
Regolazione del sistema estremamente veloce prima di iniziare le misurazioni!

Risoluzione / Stabilità / Precisione
Un singolo scanner da 100 µm acquisisce ampie scansioni e scende alla risoluzione molecolare o atomica.
Non è richiesto alcun isolamento dalle vibrazioni per le misurazioni standard.
I sensori a circuito chiuso a basso rumore consentono di attivarli anche durante l'imaging a risoluzione molecolare e ottenere risultati più accurati.
 
Scansione veloce
Le frequenze di risonanza dello scanner> 7kHz in XY e> 15kHz in Z sono oggi le più alte nel settore AFM.
Gli algoritmi di controllo dello scanner ottimizzati rendono possibile la scansione molto più veloce che mai!
 
Tutte le modalità SPM incluse più la nanolitografia senza unità e costi aggiuntivi
Kelvin Probe Microscopy, Piezoresponse Force Microscopy, Nanolitithography and Nanomanipulation sono tutti inclusi nel pacchetto base!

Flexibility to upgrade to AFM-Raman
The SmartSPM was designed from the ground up for easy and appropriate coupling with Raman systems.

Modalità di Analisi

Contact AFM in air;
Contact AFM in liquid (optional);
Semicontact AFM in air;
Semicontact AFM in liquid (optional);
True Non-contact AFM;
Dynamic Force Microscopy (DFM, FM-AFM);
Dissipation Force Microscopy;
Top Mode;
Phase Imaging;
Lateral Force Microscopy (LFM);
Force Modulation;
Conductive AFM (optional);
I-Top mode (optional);
Magnetic Force Microscopy (MFM);
Kelvin Probe (Surface Potential Microscopy);
Single-pass Kelvin Probe;
Capacitance Microscopy (SCM);
Electric Force Microscopy (EFM);
Single-pass MFM/EFM (“Plane scan”);
Force curve measurements;
Piezo Response Force Microscopy (PFM);
PFM-Top mode;
Nanolithography;
Nanomanipulation;
STM (optional);
Photocurrent Mapping (optional);
Volt-ampere characteristic measurements (optional);
Shear-force Microscopy with tuning fork (ShFM);
Normal Force Microscopy with tuning fork.

Cataloghi di riferimento